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一、受試樣品不同

溫度循環試驗一般對電路板、部件、整機、設備或系統進行應力篩選試驗。

溫度沖擊試驗一般針對電子元器件、電路板、零部件等進行測試，特別適合用于篩選元器件，尤其是集成電路器件。

二、測試目的不同

溫度循環試驗主要考核電子設備在溫度循環變化的環境適應性能力，是否可以正常工作；

溫度沖擊試驗主要考核受試電子器件在高范圍的環境應力例如溫度范圍在-70℃~180℃條件下的器件篩選試驗。

三、測試要求不同

溫度循環試驗：高溫溫度值、低溫溫度值、溫度變化速率（如5℃/min）、高低溫溫度點保持時間、循環次數組成。高低溫溫度極限值較為寬松，循環次數多為10次循環。

溫度沖擊試驗：高溫溫度值、低溫溫度值、溫度轉換時間（如溫度轉換時間≤3min）、循環次數組成。高低溫溫度極限值較為嚴苛，循環次數多為幾次至幾十次循環不等。

四、受試樣機的工作狀態不同

溫度循環試驗：溫度循環試驗期間要求在不同的循環時間點需要對受試樣機進行上電檢測功能和性能的完好性。

溫度沖擊試驗：溫度沖擊試驗期間一般不要求對受試樣機進行上電檢測，試驗后通電檢測或通過專業輔助儀器測試樣機的其他性能指標。

五、受試樣品的數量不同

溫度沖擊試驗：一般針對集成電路器件、電路板等進行，測試的數量一般較多。

溫度循環試驗：一般的環境應力篩選只在要求篩選的幾臺或1臺受試整機或系統上進行測試。

六、測試設備不同

溫度循環試驗：

對于不要求溫度變化速率或溫度變化速率要求比較低（如1℃/min）的溫度循環試驗，其實就是常規的高低溫循環試驗,使用普通的高低溫試驗箱即可進行測試。

對于要求高溫度變化速率（如5℃/min,10℃/min,15℃/min）的溫度循環試驗，需要使用專用的快速溫變箱進行測試，普通溫度箱是不能滿足要求的，對于要求更高溫度變化速率的，就需要使用高加速壽命HALT試驗箱。

溫度沖擊試驗：

一箱法的溫度沖擊試驗箱，試驗箱只有一個區域，低溫溫度點時，高溫風門關閉，只送冷風，高溫溫度點時，低溫風門關閉，高溫風門打開送熱風。

兩箱法溫度沖擊箱，一個低溫區，一個高溫區，通過提籃將受試樣品在低溫區和高溫區之間轉換。

七、檢測標準不同

1、溫度循環試驗：

GJB 1032-1990《電子產品環境應力篩選方法 》；

GB/T 2423.22-2012《電工電子產品 環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化》。

2、溫度沖擊試驗：

GJB 150.5A-2009《裝備實驗室環境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗》；

GB/T 2423.22-2012《電工電子產品 環境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化》。

溫度循環試驗和溫度沖擊試驗雖然有太多的不同點，但它們都屬于氣候類環境試驗中都非常重要的檢測項目類型，在產品研發過程的不同階段，都對提高產品的可靠性具備非常重要的作用。